日本東京電子測(cè)試、測(cè)量和分析技術(shù)展覽會(huì)

展覽時(shí)間：2026.01.21-01.23
舉辦展館：日本東京有明國(guó)際會(huì)展中心
舉辦地址：3-21-1 Ariake, Koto-ku, Tokyo 135-0063, Japan
展覽規(guī)模：展覽面積18000㎡平米、觀眾人數(shù)20000名、參展商390家
主辦單位：勵(lì)展集團(tuán)

日本電子測(cè)試展門票信息：

展期票 2026.01.21-01.23 300.00元

門票預(yù)約指南：

1. 訪問聚展網(wǎng)相關(guān)展會(huì)頁面或日本電子測(cè)試展 官網(wǎng)。
2. 點(diǎn)擊“門票預(yù)約”或“立即申請(qǐng)”按鈕，進(jìn)入預(yù)約頁面。
3. 根據(jù)提示填寫個(gè)人信息，包括姓名、聯(lián)系電話、身份證件號(hào)碼等。
4. 確認(rèn)信息無誤后提交申請(qǐng)。
5. 收到預(yù)約成功的通知后，保留好短信、微信或郵件中的確認(rèn)信息。

日本東京電子測(cè)試、測(cè)量和分析技術(shù)展覽會(huì)展品范圍：

各種檢測(cè)設(shè)備、X射線檢測(cè)設(shè)備、測(cè)試儀器、可靠性/評(píng)估檢驗(yàn)設(shè)備、CCD相機(jī)、無損檢測(cè)設(shè)備、合同分析服務(wù)等 （本文內(nèi)容版權(quán)歸屬聚展所有，未經(jīng)同意，禁止轉(zhuǎn)發(fā)）

展會(huì)介紹：

日本東京電子測(cè)試、測(cè)量和分析技術(shù)展覽會(huì)（ELECTROTEST JAPAN）是電子研發(fā)制造領(lǐng)域有關(guān)測(cè)試、檢查、測(cè)量和分析技術(shù)的專業(yè)展會(huì)。本次展會(huì)是一個(gè)與國(guó)內(nèi)外電子設(shè)備、半導(dǎo)體及電子配件、汽車及電氣設(shè)備制造商進(jìn)行洽談的場(chǎng)所。（本文內(nèi)容版權(quán)歸屬聚展所有，未經(jīng)同意，禁止轉(zhuǎn)發(fā)）

日本東京電子測(cè)試、測(cè)量和分析技術(shù)展ELECTROTEST JAPAN上屆展會(huì)總面積18000平方米，參展企業(yè)390家均來自中國(guó)、韓國(guó)、迪拜、印度、美國(guó)、新加坡、德國(guó)、巴西、西班牙等，參展人數(shù)達(dá)20000人。

日本東京電子測(cè)試、測(cè)量和分析技術(shù)展ELECTROTEST JAPAN現(xiàn)場(chǎng)來自電子設(shè)備、EMS企業(yè)/分包商、半導(dǎo)體、汽車、電子元件等行業(yè)的制造商匯聚一堂，探討電子測(cè)試、測(cè)量和分析技術(shù)未來的解決方案。

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參考資料：

日本東京電子測(cè)試、測(cè)量和分析技術(shù)展覽會(huì)

ELECTROTEST JAPAN

舉辦地區(qū)：

日本 東京

舉辦地址：

3-21-1 Ariake, Koto-ku, Tokyo 135-0063, Japan

展覽面積：

18000㎡

觀眾數(shù)量：

20000人

所屬行業(yè)：

電子展會(huì) 日本電子展會(huì)